e-Seminário CAS STNext®: Pesquisa de Informações sobre Patentes Japonesas

Muitas bases de dados no CAS STNext contêm informações sobre patentes japonesas. Este e-seminário identificará essas bases de dados e sua cobertura específica de patentes japonesas. A sessão também abordará as diferenças nos formatos de números de patentes ao longo do tempo, os vários códigos de tipo utilizados pelo escritório de patentes japonês e os dois sistemas de classificação japoneses (FCL e FTERM). Links para o registro nacional japonês também serão discutidos. Este e-seminário é voltado para pesquisadores de todos os níveis.